Mehmet ÖzerEkici, Cevahir2014-08-282014-08-282012-12http://hdl.handle.net/11413/645Bu çalışma daTlBi(1-x)Sb(x)Te2bileşiklerinin fiziksel özellikleri incelenmiştir. Büyütülen kristallerin yapılarını kontrol etmek amacıyla X-ışınları kırınım metodu kullanılmıştır.SEM (Scanning Electron Microscope) yardımı ile de bileşiktekielementlerin atomik oranları elde edilmiştir. Büyütülen kristallerin optik ölçümleri kızılötesi (IR) bölgede yansıma spektrumları kullanılarak yapılmıştır.Kızılötesi yansıma analizleri yaklaşık 100-4500 cm-1 spektral bölgede Bruker FS113V spektrometre kullanılarak ölçülen veriler yardımıyla yapılmıştır. Bu ölçümler sonucunda elde edilen yansıma-dalgasayısı spektrumuna en iyi eğri oturtma işlemi uygulanarak yüksek frekans dielektrik sabiti, plazma frekansıve sönüm katsayısı gibiparametre değerleri bulunmuştur. Büyütülen kristallerin elektriksel özellikleri oda sıcaklığında ölçülmüştür.In this thesis, the physical properties of TlBi(1-x)Sb(x)Te2compounds are examined.We have used the XRD method in order to analyze compound TlBi(1-x)Sb(x)Te2crystalline structure. We have also determined the atomically percentages of elements on the compound by SEM(Scanning Electron Microscope).Optical properties of the grown TlBi(1-x)Sb(x)Te2crystals have been examined in infrared (IR)region by using reflectivity spectra.The IR reflectivity measurements were performed by Bruker FS113V spectrometer.The experimental data are evaluated approximately in the spectral range of 100-4050 cm-1. We have calculated the plasma frequency, damping coefficient and high frequency dielectric constant by the curve fitting of the reflectivity ? wave number spectrum. The conductivity of the grown TlBi(1-x)Sb(x)Te2crystals is measured at room temperature.trfizikfizik mühendisliğiphysicsphysics engineeringmasterThesis